Kontakt
Kontakt Lieferverfügbarkeit

Pulsierte Hochstrom Testapplikationen verwenden Reedrelais

Einführung

Automatisierte Testgeräte (ATE), welche zum Testen von Halbleitern zum Einsatz kommen, erfordern eine Schalteinheit, die hochpulsierte Ströme tragen können, ohne die pulsierten Ströme  zu verfälschen. Diese pulsierten Ströme dienen der Verifikation, dass das zu testende Gerät  hohe und/oder Spitzenströme ohne Leistungsverlust verarbeiten kann. Der hohe Stromimpuls stellt sicher, dass der Chip ordnungsgemäß mit dem Trägermaterial verbunden ist. Außerdem sind hohe Spannungen nötig, um hohe Schaltspannungen abzuhalten. Durch den Einsatz von Reedrelais werden pulsierte Schaltvorgänge in Millionenhöhe erreicht

Applikationsbeschreibung
Pulsierte Hochstrom Testapplikationen verwenden Reed Relais

Eigenschaften

  • Schaltvorgänge in Millionenhöhe
  • Kleines Format
  • Trägt pulsierte Ströme von bis zu  5 Ampere
  • Schaltung von bis zu 1000 Volt möglich
  • Durchschlagsfestigkeit von 3000 Volt
  • Runde Anschlussbeine erhöhen die Haftung des Relais im Sockel
  • Dynamisch getestete Kontakte
Serien
Abmessungen
mmInches
Abbildung
KTB10.200.401 KT Reed Relay
H8.70.342
L30.21.189
SHVB6.220.245 SHV Reed Relay
H8.130.320
L24.130.950
LIB100.394 LI Reed Relay
H10.40.409
L301.181
SILB5.080.200 SIL Reed Relay
H7.80.307
L19.80.780
BEB100.394 BE Reed Relay
H100.394
L331.299

Durchsuchen Sie Unsere Komplette Liste Von Anwendungen Oder Schauen Sie Nach In Unserer Applikationsübersicht Für Weitere Details.

Abonnieren Sie Unseren Newsletter

We Will Use The Email Address You Provide To Send You Marketing And Promotional Materials.

Messen Und Ausstellungen

Folgen Sie Uns

Focused. Leadership

Video
Tabelle herunterladen
Products compare