寿命試験データ

寿命試験データ要件

リードスイッチの寿命試験データは、正確なスイッチングシナリオに応じて大きく変化します。長年にわたり、多くのリードスイッチの改良により、その信頼性は向上してきました。実際、リードスイッチは無負荷や信号負荷を切り替えることで、何十億回もの信頼性の高い動作を実現しています。ほとんどの場合、接点抵抗は5〜10mΩとわずかにしか変化しません。リードスイッチが長寿命なのは、気密性が高く、摩耗部品がないためです。

長さ7mmから50mmまで、ナノボルトから10,000ボルトまで、フェントアンペアから5アンペアまで、6ギガヘルツまでのDCスイッチングが可能な数種類のスイッチを提供しています。一般的に、センサーやリレー用途のリードスイッチは、水銀接点、タングステン接点、ロジウム接点、ルテニウム接点などがあり、用途に合わせて提供しています。

寿命試験データの最適化

寿命を最適化するために、注意事項を確認してください。ここでは、機械的および電子的に懸念されるいくつかの点について説明しています。特に負荷の選択では、インダクタンス、静電容量、または突入電流負荷を持つ負荷を切り替える際の重要な洞察力を得ることができます。

以下のページは、一般的な寿命の負荷曲線で、所定の電圧と電流に対する期待寿命を表しています。最も重要なことは、表示されているものと異なる負荷がある場合、所定の寿命を想定しないことです。必要な寿命を得るためには、実際のスイッチング条件で回路をテストすることが常に最善です。これらの寿命負荷グラフは、純粋にDC負荷条件でのスイッチングを表しています。現実の世界では、ほとんどの場合、これは存在しません。そのため、必ず実際の負荷で回路をテストして、必要な寿命を得るようにしてください。

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